概要
- 走査型電子顕微鏡EBSDシステム、小型二軸コニカル押出・ロール成形一体型装置、原子層堆積システム、チップ間インターフェースビットエラーレート測定器の各1式を調達。
- 納入期限はA:令和9年3月31日、B:令和8年10月20日、C:令和9年3月19日、D:令和9年2月26日。納入場所はA・B・Dが工学系研究科、Cが生産技術研究所。
- 全省庁統一資格の関東・甲信越地域「物品の製造又は物品の販売」のA・B・C等級が必要。アフターサービス・メンテナンス体制の証明も要件。
- リバースオークション方式の電子入札で、開札は令和8年8月20日14時30分〜16時30分。書類受領期限は令和8年7月27日17時。
- 予定価格の範囲内で最低価格の入札者が落札。落札価格はシステム入力額に10%加算した金額。入札・契約保証金は免除。
※正確な内容は添付PDFでご確認ください。
案件情報
- 公開日
- 2026年7月1日
- 入札締切
- 2026年8月20日
添付ファイル(1)
一般物品.pdf
PDF ・ 690.6 KB ・ 4ページ
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発注機関情報
- 機関名
- 東京大学
- 所在地
- 東京都