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公開中その他一般競争入札

一般物品

東京大学

概要

  • 走査型電子顕微鏡EBSDシステム、小型二軸コニカル押出・ロール成形一体型装置、原子層堆積システム、チップ間インターフェースビットエラーレート測定器の各1式を調達。
  • 納入期限はA:令和9年3月31日、B:令和8年10月20日、C:令和9年3月19日、D:令和9年2月26日。納入場所はA・B・Dが工学系研究科、Cが生産技術研究所。
  • 全省庁統一資格の関東・甲信越地域「物品の製造又は物品の販売」のA・B・C等級が必要。アフターサービス・メンテナンス体制の証明も要件。
  • リバースオークション方式の電子入札で、開札は令和8年8月20日14時30分〜16時30分。書類受領期限は令和8年7月27日17時。
  • 予定価格の範囲内で最低価格の入札者が落札。落札価格はシステム入力額に10%加算した金額。入札・契約保証金は免除。
※正確な内容は添付PDFでご確認ください。

案件情報

公開日
2026年7月1日
入札締切
2026年8月20日

添付ファイル(1)

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場所 東京都|方式 一般競争入札

発注機関情報

機関名
東京大学
所在地
東京都