公開中その他一般競争入札

一般物品

概要

走査型電子顕微鏡（FE-SEM）EBSDシステム、小型二軸コニカル押出・ロール成形一体型装置、原子層堆積システム、チップ間インターフェースビットエラーレート測定器の各1式を一般競争入札（リバースオークション）で調達。
納入期限はA:令和9年3月31日、B:令和8年10月20日、C:令和9年3月19日、D:令和9年2月26日。納入場所はA・B・Dが東京大学大学院工学系研究科、Cが東京大学生産技術研究所。
参加資格は全省庁統一資格で令和8年度関東・甲信越地域「物品の製造又は物品の販売」のA・B又はC等級の者。
書類受領期限は令和8年7月27日17時、入札・開札は令和8年8月20日（14時30分〜16時30分、案件別）の電子入札（リバースオークション）。
落札は予定価格の範囲内で最低価格による決定。入札・契約保証金は免除。予定価格の金額は公告本文に記載なし。

※正確な内容は添付PDFでご確認ください。